当探头横向移动时，比探头尺寸小的缺陷所产生的信号幅度会发生起伏变化，这个区域称为（)

A.纵向缺陷

B.横向缺陷

C.表面缺陷

D.以上都是

提高近表面缺陷的探测能力应从下面三方面着手：①用（)探头;②使用（)脉冲（)频带探头;③（)探头频率，（)晶片尺寸。

A.采用当量试块比较法测定的结果

B.对大于声束的缺陷，采用底波对比而测得的结果

C.根据缺陷反射波高和探头移动的距离而测得的结果

D.缺陷定量法之一，和AVG曲线的原理相同

A.探测频率应等于大于5MHz

B.透声性好粘度大的耦合剂

C.晶片尺寸小的探头

D.以上全部

A.扫查灵敏度都高于基准灵敏度

B.扫查灵敏度比基准灵敏度高6dB

C.扫查灵敏度都等于基准灵敏度

D.扫查灵敏度应根据表面状况、缺陷检测要求及探头类型等适当提高dB数(增益)

A.横向分辨率越高

B.横向分辨率越差

C.纵向分辨率越高

D.纵向分辨率越差